GB/T 2423.25-2008/IEC 60068-2-40:1976 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分∶試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AM∶低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)

1  引言

1.1  概述

GB/T 2423的本部分是關(guān)于散熱和非散熱試驗(yàn)樣品低溫（溫度漸變或突變）和低氣壓綜合試驗(yàn)，見8.2.2和8.2.8。

本試驗(yàn)?zāi)康氖谴_定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品對(duì)其貯存和使用中遇到的低溫-低氣壓綜合環(huán)境的適應(yīng)性。

本綜合試驗(yàn)通常只有在試驗(yàn)樣品進(jìn)行單一環(huán)境試驗(yàn)不能揭示綜合環(huán)境影響時(shí)使用。本部分規(guī)定的試驗(yàn)程序只適用于在試驗(yàn)期間能夠達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。

本部分規(guī)定的試驗(yàn)方法一次只能試驗(yàn)一個(gè)散熱試驗(yàn)樣品。

1.2  低氣壓

本試驗(yàn)程序適用于氣壓大于1kPa的壓力試驗(yàn)。當(dāng)氣壓小于或等于1kPa時(shí)，可不必考慮試驗(yàn)程序的內(nèi)容。

本部分沒有指明高度、壓力和溫度的關(guān)系。三者的關(guān)系見專門標(biāo)準(zhǔn)。

1.3  溫度

1.3.1 GB/T 2423.1試驗(yàn)A中有關(guān)非散熱試驗(yàn)樣品和散熱試驗(yàn)樣品試驗(yàn)應(yīng)用對(duì)比的指導(dǎo)適用于本部分。

注∶非散熱試驗(yàn)樣品的定義按GB/T2421相關(guān)的規(guī)定，不應(yīng)在低氣壓下測量其最熱點(diǎn)的溫度。

1.3.2 GB/T 2423.1試驗(yàn) A中散熱試驗(yàn)樣品應(yīng)該優(yōu)先在無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)箱中進(jìn)行試驗(yàn)。

2  目的

提供標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)程序以確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫/低氣壓綜合環(huán)境使用和/或貯存的適應(yīng)性。

3  一般說明

本試驗(yàn)是GB/T2423.1試驗(yàn)Ab或試驗(yàn)Ad和GB/T2423.21試驗(yàn)M的綜合。

試驗(yàn)中，試驗(yàn)樣品首先應(yīng)經(jīng)受相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷度等級(jí)的低溫試驗(yàn)。如果試驗(yàn)過程中試驗(yàn)樣品要工作，則要對(duì)其進(jìn)行檢測，以保證試驗(yàn)樣品能夠正常工作。然后在溫度保持規(guī)定值的情況下，將試驗(yàn)箱壓力降到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的試驗(yàn)壓力。將此溫度、壓力條件保持規(guī)定時(shí)間。